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芯片测试及分析

beat365上海芯片测试与分析实验室,是beat365技术有限公司于2019年11月成立,针对集成电路测试的专业实验室。芯片实验室拥有行业内专业的技术团队,先进的测试设备(如DI、MCC芯片老化试验箱等),优秀的检测测试环境(10万级无尘室)。在芯片的常规环境检测试验,芯片的老化寿命试验以及失效分析及可靠性方面有丰富的测试经验。与多家大型集成电路设计和制造公司达成良好的合作。beat365上海芯片测试与分析实验室致力于为集成电路的检测提供最优质的服务,协助中国集成电路企业的发展,成为行业中最值得信任的实验室。


测试项目

Pre-Con预处理,环境测试

●  高温存储/低温存储

● 高低温变化

● 恒定湿热

● 交变湿热

● 温湿度循环

● 气态冷热冲击

● 液态冷热冲击


芯片的老化测试

●  HTOL高温操作寿命

●  LTOL低温操作寿命

● THB温湿度偏压

●  PCT高压蒸煮

●  HAST高加速应力温湿度试验


封装可靠性试验

● Reflow回流焊

●  SAT超声波扫描

●  外观检查


测试相关标准

● GB/T 2423/IEC 60068系列电工电子产品环境试验标准

● JESD22系列环境可靠性测试标准

● MIL-STD-810美军标电子装备环境试验标准

● MIL-STD-883美军标微电子器件试验方法和程序等

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